Ключевые слова: presentation, HTS, YBCO, fabrication, MOCVD process, critical current density, thickness dependence, IBAD process, buffer layers
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.